PVE300-IVT 系统介绍

系统功能

基本功能：

EQE/SR 测试：超小光斑 / 中光斑 / 大光斑多档可选
反射率测试：超小光斑 / 中光斑
透射率测试：中等光斑
IQE 计算功能

高级功能（可选配）：

EQE & 反射率 Mapping：基于 XY 马达自动面扫描功能
I_SC 损耗分析功能
小组件 J_SC/CTM 分析功能

系统的突出性能

多尺度光斑选择：覆盖超小至大光斑，适配各类电池尺寸
三合一测试：EQE、反射率、透射率一机完成
XY Mapping 自动扫描：快速获取器件空间均匀性分布
ISC 损耗分析：精确定位电池性能损失来源

支持ペロブスカイト、晶硅及各类新型光伏电池的 EQE/SR/IQE 综合测试

产品相册

细节展示 · 全面了解

光谱响应 · 精准捕捉

300-1200nm 连续扫描 · QE/反射率/透射率三合一

光谱响应

Peak λ657 nm

EQE98.7 %

FWHM753 nm

Jsc ≈38.8 mA/cm²

Spectral Range300–1167 nm

反射率测量

R min λ574 nm

R min0.3 %

Avg R8.5 %

UV-Vis Edge1100 nm

Max R65.7 %

内量子效率(IQE)

IQE @ 800nm97.5 %

Peak λ789 nm

IQE peak99.7 %

Eg (Tauc)1.57 eV

Spectral Range300–1167 nm

光谱响应反射率测量透射率测量

技术规格

光谱范围

300 – 1200 nm（连续扫描）

测量功能

光谱响应(SR) / 反射率(R) / 透射率(T)

波长分辨率

1 nm

适用样品

硅片、薄膜、ペロブスカイト

偏置光源

LED白光（0 – 1 Sun可调）

数据采集

同步采集SR/R/T三通道

PVE300-IVT 量子效率 / 反射率 / 透射率测试系统