非接触I-V测试系统（在线款）

VS-IV 系统介绍

系统功能

三工位设计：

• 工位1 — 非接触式 EQE 测试
• 工位2 — 非接触式 Rs 测试 & EL/PL 测试，可进行 EL 缺陷分选
• 工位3 — 非接触式 Suns-PL 测试

测试参数：

• Isc、Voc、FF、EFF、Rs、Rsh、IRev、J01、J02、PFF

适用电池类型：

• Topcon、BC、HJT

系统的突出性能

• 非接触测量，无需接触电极，消除接触电阻影响，避免样品损伤
• 最快 500ms/片（测试时间 250ms + 自动化 250ms），常规 700ms/片
• 支持单片、半片、三分片、四分片等多种测试模式
• 24 小时连续运行，支持自动化设备无缝对接
• 测量数据自动存储，支持 SPC 统计分析，可对接产线 MES 系统