PVE300 - SR/QE 测试系统

高精度外部量子效率测试解决方案

PVE300 SR/QE 测试系统

PVE300 系统介绍

系统功能

基本功能:

  • SR/ EQE测试功能(超小光斑、中光斑和超大光斑)
  • 反射率测试功能(超小光斑、中光斑)
  • IQE计算功能
  • 软件基本功能

高级功能(可选配):

  • XY马达驱动多点自动扫描
  • ISC/JSC 损耗分析
  • CTM LOSS /Gain Analysis

系统的突出性能

  • 卓越的重复精度
  • 快速的测试速度
  • 硬件配置上的独特技术特点

产品兼容230电池

SR/QE 精准计量

计量级精度 · 光谱响应 + 量子效率双模式

光谱响应
光谱响应
峰值波长
峰值 SR
半高宽
积分电流
量子效率
峰值波长
峰值 EQE
峰值 IQE
积分电流
参数提取
开路电压
短路电流
串联电阻
并联电阻
光谱响应 量子效率 参数提取

技术规格

测量功能

光谱响应(SR) + 量子效率(QE)双模式

光谱范围

300 – 1200 nm

计量精度

±2%(SR)/ ±3%(QE)

光斑尺寸

2 × 2 mm – 10 × 10 mm(可调)

偏置光源

0 – 1 Sun LED

应用领域

研发、产线质量控制

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