VS-5840D 光致/电致发光测试系统(高校)

光致 / 电致发光成像,适用于高校及研究机构

VS-5840D 光致/电致发光测试系统(高校)

VS-5840D 光致/电致发光测试系统(高校) 系统介绍

系统功能

基本功能:

  • 原硅片 / 过程片 / 成品片 PL 成像
  • 成品片 EL 成像

高级功能:

  • 小组件 PL/EL,尺寸 450 mm x 300 mm
  • 钙钛矿 / 晶硅叠层电池的 PL/EL 成像
  • GaInP/GaAs/Ge 多结电池的 PL/EL 成像

系统突出优势

  • 高校及研究机构专用机型,专注基础检测需求
  • 支持多种电池类型:硅片、成品片、钙钛矿/晶硅叠层、多结化合物电池

发光检测 · 缺陷可视化

光致发光 + 电致发光双模式 · 微裂纹/位错/断栅识别

PL 检测
光强
峰值波长
缺陷点
均匀性
EL 缺陷图
亮度均值
对比度
缺陷块
均匀性
AI 缺陷分析
置信度
缺陷面积
分类精度
处理速度
PL 检测 EL 检测 缺陷分析

技术规格

检测模式

光致发光(PL) + 电致发光(EL)双模式

缺陷识别

微裂纹 / 位错 / 断栅

检测速度

EL: 1s/片,PL: 5s/片

空间分辨率

10 μm

适用电池

晶硅电池片 / 组件

数据输出

缺陷分布热力图 + 分类报告

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